介质损耗（tanδ）和介电常数（ε）是表征绝缘材料电学性能的核心参数。介电常数反映材料在电场中存储电能的能力，而介质损耗则衡量电能转化为热能的效率。这两项指标直接影响电子元器件（如电容器、绝缘子）的可靠性，尤其在高压、高频场景下，材料若存在过高损耗或介电常数不稳定，可能导致设备发热、信号失真甚至失效。
介电常数（ε）和介质损耗因数（tanδ）作为绝缘材料的核心参数，直接决定了电容器、高频电路等元器件的性能表现。随着5G、新能源等行业的快速发展，对材料介电特性的测试需求日益增长。武汉凯迪正大推出的KDYD-JZ，正是针对这一需求设计的高精度设备，其覆盖10kHz~100MHz的宽频范围和多档位调节能力，为科研与工业应用提供了强有力的工具支持。
测试原理上，介电常数通过测量材料在电场中的电容变化计算得出；介质损耗则利用谐振法或电桥法检测能量损耗角正切值。常见的测试材料包括陶瓷、塑料、云母等，其性能差异直接影响应用场景选择——例如高频电路需低损耗材料，而高介电常数材料更适合电容器小型化设计。精准测量这些参数对材料研发、质量控制及行业标准制定具有重要意义。
武汉凯迪正大KDYD-JZ专为科研机构、高校及企业设计，用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（tanδ）。其应用覆盖新材料研发、产品质量检测及教学实验，尤其适合无机金属氧化物、陶瓷、塑料等材料的性能评估，为优化材料配方和生产工艺提供数据支撑。
产品参数 1、Q值测量
a. Q值测量范围：5~999
b. Q值量程分档：30、100、300、999、自动换挡
c.标称误差
频率范围：10kHz~10MHz；
固有误差：≤5%±满度值的2%；工作误差：≤7%±满度值的2%；
频率范围：10MHz~52MHz
固有误差：≤7%±满度值的2%；工作误差：107%±满度值的2%。
2、电容测量
a.测量范围：1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；
b.电容量调节范围
主调电容器：40~500pF;
准确度：150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%;
微调电容量：-3pF~0~+3pF;
准确度：±0.2pF.
3、振荡频率
a.振荡频率范围：10kHz~100MHz；
b.频率分档：
10~99 kHz 100~999 kHz
1 .0~9.99 MHz 10~52MHz。
c.频率误差：2×10-4±1个字
4、Q合格指示预置功能，预置范围：5~999。
5、仪器正常工作条件
a.环境温度：0℃~+40℃；
b.相对湿度：<80%；
c.电源：220V±22V, 50Hz±2.5Hz。
6、试样尺寸
圆片形：厚度2±0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）
7、其他
a.消耗功率：约25W；
b.净重：约7㎏;
c.尺寸外形：（l×b×h）mm：380×132×280。
产品特点Q值测量：覆盖5~999范围，支持自动换挡，10kHz~52MHz频段内固有误差≤7%，满足高频材料测试需求。
电容测量：1~460pF宽量程，主调电容器精度达±1%（>150pF），微调电容分辨率0.2pF，确保微小电容变化可检测。
振荡频率范围10kHz~100MHz，分四档细分，频率误差低至2×10⁻⁴，适应不同材料测试标准。
预置Q合格指示功能（5~999），可快速判定材料是否达标，提升检测效率。
工作环境宽容性强（0℃~40℃、湿度<80%），电源适应性广（220V±22V），适合实验室及产线环境。
试样兼容性强，支持圆片形材料（直径15~40mm，厚度2±0.5mm），覆盖各类介电常数需求。
KDYD-JZ介电常数及介质损耗测试仪凭借其高精度、宽量程和智能化功能，成为材料研发与质量控制的常用选择。无论是高校实验室的基础研究，还是企业生产线的快速检测，该设备均能提供稳定可靠的测试数据。其Q值自动换挡、电容微调分辨率达0.2pF等技术优势，显著提升了高频材料评估的准确性；而预置合格指示功能则大幅优化了批量检测效率。随着电子器件向高频化、集成化方向发展，此类高性能测试设备将在新材料开发、标准制定等领域发挥更重要的作用。凯迪正大通过持续优化仪器性能，助力行业突破介电材料技术，为电子信息产业的创新提供坚实支撑。
